Как проверить оригинальность микросхемы

Проблема контрафактных электронных компонентов стоит особенно остро в условиях параллельного импорта. По статистике до 5% всех компонентов на рынке являются подделками или перемаркированными изделиями. Основные методы проверки включают: визуальный контроль под микроскопом для выявления неоригинальной маркировки, рентгеновский контроль для анализа внутренней структуры кристалла и проводных соединений, декэпсуляция (вскрытие корпуса) для визуального осмотра кристалла и сравнения с эталоном, электрические тесты для проверки ключевых параметров по даташиту. Лаборатория СВП (система видеоконтроля поставок) аккредитована для проведения входного контроля электронных компонентов. Каждый компонент проходит многоуровневую проверку, результаты которой документируются и предоставляются заказчику.